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- 走査型電子顕微鏡
- 固体試料表面に電子線を照射して発生した特性X線を検出し試料を構成する元素とその量を調べます。
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- ICP発光分光分析装置
- 励起した原子が基底状態に戻るときに発する光の波長と強度から試料に含まれる元素の種類と量を調べます。
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- 偏光顕微鏡
- 岩石を構成する鉱物の光学的特徴を観察し、鉱物種の同定を行います。
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- 蛍光X線分析装置
- 試料にX線を照射して特性X線を発生させ試料を構成する元素とその量を調べます。
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- 表面電離型質量分析装置
- 放射性起源の娘元素についてその同位体比を調べます。岩石・鉱物の年代測定に使用されます。
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